电位剥离分析
电位剥离分析是一种灵敏的分析技术。在 SCP 测量开始之前,需要在沉积电位 E dep 处进行沉积。沉积阶段结束后,记录电位与时间的关系。在此阶段,恒电位仪关闭,测量开始。
在 PalmSens,这项技术通常被称为时差剥离或剥离时差测量法。
PalmSens 的下列仪器可用于电位剥离分析:
电位剥离分析是一种灵敏的分析技术。在 SCP 测量开始之前,需要在沉积电位 E dep 处进行沉积。沉积阶段结束后,记录电位与时间的关系。在此阶段,恒电位仪关闭,测量开始。
在 PalmSens,这项技术通常被称为时差剥离或剥离时差测量法。
PalmSens 的下列仪器可用于电位剥离分析: